本發(fā)明公開(kāi)了一種基于數(shù)據(jù)融合的產(chǎn)品缺陷挖掘方法、設(shè)備、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括:步驟S1、多源異構(gòu)數(shù)據(jù)采集與預(yù)處理;步驟S2、進(jìn)行功能點(diǎn)與程度提取;步驟S3、對(duì)數(shù)據(jù)源進(jìn)行權(quán)重計(jì)算;步驟S4、對(duì)多源數(shù)據(jù)進(jìn)行融合;步驟S5、進(jìn)行自動(dòng)化質(zhì)量...