描述了一種接口電路的實施例。這種接口電路包括輸入焊盤、控制節(jié)點和晶體管，該晶體管具有三個端子。第一端子被電氣地耦合到輸入端而第二端子被電氣地耦合到控制節(jié)點。此外，接口電路包括微機電系統(tǒng)（ＭＥＭＳ）開關(guān)，其被電氣地耦合到輸入焊盤和控制節(jié)點...

本發(fā)明的一個實施例提供了一種模擬使用不確定值寄存器傳輸級設(shè)計的行為結(jié)構(gòu)的系統(tǒng)。所述系統(tǒng)可接收硬件描述語言代碼，包括根據(jù)表達式的值而動作不同的結(jié)構(gòu)，例如所述結(jié)構(gòu)可基于控制表達式的值執(zhí)行代碼的不同部分，或者它可基于索引表達式的值在不同的存儲...

本發(fā)明的一個實施方式提供了一個系統(tǒng)，用于檢測被斷裂為與期望配置不同的基本形狀的配置的給定形狀的出現(xiàn)。該系統(tǒng)選擇給定形狀的斷裂形狀實例，其中將給定形狀的其他斷裂形狀實例與之比較。作為比較過程的一部分，系統(tǒng)產(chǎn)生包括掩模圖形描述中與所選斷裂形...

粗略地說，根據(jù)所考慮的電路設(shè)計來優(yōu)化基于掃描的測試架構(gòu)。在一個實施例中，形成多個候選測試設(shè)計。對于每一個候選測試設(shè)計來說，根據(jù)電路設(shè)計和候選測試設(shè)計而生成多個測試矢量，并且這些測試矢量優(yōu)選是使用同一ＡＴＰＧ算法生成的，其中所述算法會在下...

在這里公開的是一種用于預(yù)測在集成電路布局中表示的并與集成電路制造過程一起使用的特征的側(cè)面位置信息的方法，其中該過程將圖像投射到抗蝕劑上。該方法包括提供位于抗蝕劑內(nèi)部不同深度的圖像強度值的側(cè)面分布。接下來，根據(jù)特定抗蝕劑顯影時間，并且進一...

所述的各種方法和設(shè)備（例如實現(xiàn)方法的計算機可讀介質(zhì)）涉及集成電路網(wǎng)表的序向單元的貼近布局。例如，接收初步布局；并且基于該初步布局，識別在后續(xù)布局后得到功耗改進和／或時序變化改進的序向單元組。在另一個例子中，接收在后續(xù)布局后得到功率改進和...

一種包括存儲器的電路設(shè)計的計算機實現(xiàn)的表示通過以下步驟被抽象成較小的網(wǎng)表：使用表示存儲器中的所選槽的替代節(jié)點取代存儲器，將網(wǎng)表中包括一個或多個替代節(jié)點的字級節(jié)點分割成分段節(jié)點，為分段節(jié)點尋找減小的安全尺寸，使用分段節(jié)點的減小的安全尺寸生...

本發(fā)明公開了一種將包括存儲器的電路設(shè)計的計算機實現(xiàn)的表示抽象為更小的網(wǎng)表，其可用標(biāo)準(zhǔn)驗證工具和操作網(wǎng)表的其它工具進行分析。這些系統(tǒng)的正確性需要推理比電路設(shè)計中存在的存儲器條目的數(shù)量少得多的數(shù)量，并且通過將這些存儲器抽象為小得多的數(shù)量的條...

本實用新型公開了一種用于測試多端口存儲器器件的運行時可編程ＢＩＳＴ。一種實施例提供了一種運行時可編程系統(tǒng)，包括測試多端口存儲器器件以發(fā)現(xiàn)多端口存儲器故障，以及在訪問存儲器器件單個端口時可以激活的典型單端口存儲器故障的多種方法和裝置。更具...

本實用新型提供一種降低隨機良率缺陷的裝置，包含：臨界面積分析裝置，執(zhí)行臨界面積分析以分別得到若干個待更正線路的開路臨界面積及短路臨界面積；臨界面積累加裝置，將每個待更正線路的開路臨界面積及短路臨界面積加權(quán)并累加得到累加值；線路調(diào)整裝置，...

本實用新型涉及一種應(yīng)用于倒裝芯片封裝的繞線裝置，其中所述的倒裝芯片包含若干個外層襯墊及若干個內(nèi)層襯墊，所述的裝置包含一排序單元、一計算單元和一繞線單元。所述的排序單元是排列所述的外層襯墊成一外層序列及排列所述的內(nèi)層襯墊成若干個內(nèi)層序列。...

本實用新型涉及一種應(yīng)用于建立倒裝芯片封裝的繞線方式的裝置，其中所述的倒裝芯片包含若干個外層襯墊及若干個內(nèi)層襯墊，所述的裝置包含一排序單元和一繞線單元。所述的排序單元是排列所述的外層襯墊及內(nèi)層序列成若干個襯墊列。所述的繞線單元是根據(jù)所述的...

本實用新型的一個實施例提供一種用于在邏輯合成階段期間優(yōu)化電路設(shè)計以減少在布置和布線階段期間的布線擁塞的設(shè)備。該設(shè)備可以包括：識別裝置，用于識別所述電路設(shè)計中的第一電路結(jié)構(gòu)，其中所述第一電路結(jié)構(gòu)包括在第一組信號源和第一組信號負(fù)載之間的第一...

本實用新型的一些實施例提供一種在管芯尺寸優(yōu)化期間縮放Ｉ／Ｏ單元布置的設(shè)備。該設(shè)備可以包括：接收裝置，配置成接收用于管芯的初始管芯尺寸和用于一組Ｉ／Ｏ單元的初始Ｉ／Ｏ單元布置；其中所述接收裝置還被配置成接收用于所述管芯的目標(biāo)管芯尺寸；確定...

本實用新型提供一種用于在物理驗證期間管理違例的設(shè)備。該設(shè)備包括：第一識別裝置，被配置用于通過對布圖應(yīng)用一組設(shè)計規(guī)則檢查ＤＲＣ規(guī)則來識別第一ＤＲＣ違例；第一呈現(xiàn)裝置，被配置用于向第一用戶呈現(xiàn)第一ＤＲＣ違例；接收裝置，被配置用于從第一用戶接...

本發(fā)明公開了一種用于測試多端口存儲器器件的運行時可編程ＢＩＳＴ。一種實施例提供了一種運行時可編程系統(tǒng)，包括測試多端口存儲器器件以發(fā)現(xiàn)多端口存儲器故障，以及在訪問存儲器器件單個端口時可以激活的典型單端口存儲器故障的多種方法和裝置。更具體地...

本發(fā)明的一些實施例提供了用于模擬電路設(shè)計以使得模擬符合硬件語義的技術(shù)和系統(tǒng)。具體地，一些實施例通過適當(dāng)處理會在邏輯模擬期間出現(xiàn)的狀態(tài)元素中的競爭條件和／或時鐘樹中的假信號來確保模擬符合硬件語義。每個邏輯周期包括兩個階段：其中系統(tǒng)評估不取...

本發(fā)明公開了一種用于多功率域的靜態(tài)時序分析的方法和設(shè)備。描述了計算機系統(tǒng)、方法、集成電路和用于計算機系統(tǒng)一起使用的計算機程序產(chǎn)品（也即，軟件）的實施方式。這些設(shè)備和技術(shù)可以用于對包括多個功率域的電路執(zhí)行ＳＴＡ。功率域交叉信息以及可選地每...

本發(fā)明涉及針對門輸出負(fù)載的快速且準(zhǔn)確的估計。描述了一種計算機系統(tǒng)、方法、集成電路和用于與該計算機系統(tǒng)一同使用的計算機程序產(chǎn)品（即軟件）的實施例。這些設(shè)備和技術(shù)可以用來分析在分級中電耦合到輸出網(wǎng)絡(luò)的邏輯門的電特性。具體而言，在分析期間，將...

本發(fā)明涉及用于執(zhí)行三維集成電路（３Ｄ－ＩＣ）設(shè)計的ＲＬＣ建模和提取的方法和裝置。具體地，本發(fā)明的一個實施方式提供一種用于執(zhí)行３Ｄ－ＩＣ管芯的ＲＬＣ提取的系統(tǒng)。在操作期間，該系統(tǒng)接收３Ｄ－ＩＣ管芯描述。系統(tǒng)繼而將３Ｄ－ＩＣ管芯描述轉(zhuǎn)換為２...