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        臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司專利技術(shù)

        臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司共有16958項(xiàng)專利

        • 本發(fā)明涉及一種用以設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)集成電路的方法,該方法包括提供一模型化參數(shù)集,用以設(shè)計(jì)一集成電路;分割該模型化參數(shù)集為時(shí)依性數(shù)據(jù)與非時(shí)依性數(shù)據(jù);儲(chǔ)存實(shí)體上所有非時(shí)依性數(shù)據(jù)于一設(shè)計(jì)組件庫(kù);以及儲(chǔ)存制造相關(guān)所有時(shí)依性數(shù)據(jù)于一可制造性設(shè)計(jì)(DFM...
        • 本發(fā)明涉及一種低供應(yīng)電壓能隙集成電路系統(tǒng)及操作的方法,用來(lái)容許能隙電路系統(tǒng)在低供應(yīng)電壓集成電路下運(yùn)作,并利用能隙電路的基準(zhǔn)電壓(Vbg)來(lái)控制系統(tǒng)電壓。實(shí)施例包括電荷泵(charge pump)用來(lái)將供應(yīng)電壓升至系統(tǒng)電壓、以及開(kāi)回路控制...
        • 本發(fā)明涉及一參考電壓電路,其包括具有第一源極、第一柵極和第一漏極的第一PMOS裝置,其中第一源極耦合至供電節(jié)點(diǎn);以及具有第二源極、第二柵極和第二漏極的第二PMOS裝置。第二源極耦合至供電節(jié)點(diǎn)。第一與第二PMOS裝置具有固定的源極-漏極電...
        • 一種參考電壓電路,包括:具有第一輸入端、第二輸入端和輸出端的放大器;第一pnp雙載子晶體管;第一電阻,其一端連接至第一pnp雙載子晶體管的射極,另一端連接至放大器的第一輸入端;第二電阻,兩端分別連接至放大器的兩端;第五電阻;數(shù)個(gè)第二pn...
        • 一種自我補(bǔ)償?shù)碾妷赫{(diào)節(jié)器、升壓電路及其電壓調(diào)節(jié)方法,用來(lái)調(diào)節(jié)一升壓電路產(chǎn)生的一升壓電壓。該電壓調(diào)節(jié)器包括一調(diào)節(jié)電壓輸入,其用于接收來(lái)自該升壓電壓的一調(diào)節(jié)電壓;一參考電壓輸入,其用于接收一常數(shù)參考電壓;以及一輸出節(jié)點(diǎn),其用于提供一反饋信號(hào)...
        • 一種交換式電壓產(chǎn)生電路包括偏壓電路,具有第一端,耦接至具有操作電壓的第一電源節(jié)點(diǎn),以及第二端,耦接至低電壓參考電位,其中位于第一端的電壓以非線性的方式與操作電壓相關(guān);充電電容具有第一端,耦接至負(fù)載電路的;充電路徑,位于充電電容的第二端與...
        • 本發(fā)明涉及一種低電壓次帶隙參考電路。在一實(shí)施例中,低電壓次帶隙參考電路包含一差動(dòng)放大器以及基極及集極耦合至一電接地的一第一雙極晶體管。參考電路還包括一第二雙極晶體管,其具有耦合至電接地的基極及集極。參考電路還包括一DC偏壓電路,供應(yīng)一預(yù)...
        • 一種具有溫度補(bǔ)償特征的溫度控制裝置,用來(lái)控制一受控體于一標(biāo)準(zhǔn)受控溫度值,其中所述溫度控制裝置至少包括:一主溫度控制裝置,其根據(jù)一主溫度特性曲線來(lái)操作;一補(bǔ)償溫度控制裝置,其根據(jù)一補(bǔ)償溫度特性曲線來(lái)操作,其中該補(bǔ)償溫度特性曲線以該標(biāo)準(zhǔn)受控...
        • 一種具有溫度補(bǔ)償特征的溫度控制方法和裝置。此溫度控制方法至少包括:操作主溫度控制裝置,來(lái)提供主溫度特性曲線;提供補(bǔ)償溫度特性曲線,其中補(bǔ)償溫度特性曲線與主溫度特性曲線互為鏡射(Mirror Reflected);以及根據(jù)主溫度特性曲線來(lái)...
        • 本發(fā)明提供一種制程機(jī)臺(tái)監(jiān)控的離線量測(cè)的方法與系統(tǒng)。提供一自我調(diào)整監(jiān)控規(guī)則數(shù)據(jù)庫(kù),用以儲(chǔ)存用于執(zhí)行晶圓批量處理的預(yù)定監(jiān)控規(guī)則。定義用于執(zhí)行該晶圓批量處理的監(jiān)控?cái)?shù)據(jù),根據(jù)選取自該自我調(diào)整監(jiān)控規(guī)則數(shù)據(jù)庫(kù)中的監(jiān)控規(guī)則取得所欲監(jiān)控?cái)?shù)據(jù),根據(jù)該監(jiān)控...
        • 一種計(jì)算機(jī)系統(tǒng)與處理方法,該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)包括剖析器、比較器以及自動(dòng)校正模塊。剖析器用以接收具有詳細(xì)處理工具執(zhí)行數(shù)據(jù)的記錄文件,并且產(chǎn)生具有部分以已知格式所設(shè)置的詳細(xì)處理工具執(zhí)行數(shù)據(jù)的操作記錄。比較器用以接收自動(dòng)化物料追蹤數(shù)據(jù),并且與操作記...
        • 本發(fā)明揭示了改善產(chǎn)品合格率的方法、程序及其系統(tǒng),以達(dá)到較佳的缺陷密度及提高產(chǎn)品合格率的目的。為求增強(qiáng)的絕佳工具選擇及發(fā)送,本發(fā)明提供一種絕佳工具選擇及發(fā)送系統(tǒng),用以整合不同部件。該絕佳工具選擇系統(tǒng)是依據(jù)制造工具的一集合效能來(lái)選擇絕佳工具...
        • 一種研磨漿臂(Slurry  Arm)自動(dòng)控制裝置,設(shè)置于一化學(xué)機(jī)械研磨機(jī)臺(tái)中,其特征在于,該研磨漿臂自動(dòng)控制裝置至少包括:    一研磨漿臂;    一計(jì)算單元,用以計(jì)算經(jīng)一化學(xué)機(jī)械研磨步驟后的一測(cè)試晶圓的一厚度信息,并藉以獲得該研磨...
        • 一種協(xié)調(diào)管制界限與機(jī)臺(tái)效能的方法,替控制圖定義相關(guān)的圖片屬性,其包括節(jié)點(diǎn)類型(Node  Type)、管制方法(Control  Method)以及制程類別(Process  Catalog),然后將圖片屬性與所有產(chǎn)生的控制圖產(chǎn)生關(guān)聯(lián)。...
        • 本發(fā)明提供一種具有誤差補(bǔ)償結(jié)構(gòu)的負(fù)反饋系統(tǒng),此系統(tǒng)包含:第一代數(shù)和模塊,其接收一個(gè)系統(tǒng)輸入且輸出一個(gè)第一代數(shù)和模塊的運(yùn)算;一個(gè)第一向前模塊,其耦接該第一代數(shù)和模塊以接收該第一代數(shù)和輸出,且輸出一個(gè)第一向前模塊的運(yùn)算;反饋模塊,其耦接該第...
        • 本發(fā)明提供一種收集及處理從制程機(jī)臺(tái)擷取的電子數(shù)據(jù)的系統(tǒng)、制造系統(tǒng),其包括一數(shù)據(jù)收集裝置以及一處理器。上述數(shù)據(jù)收集裝置,其是用以透過(guò)網(wǎng)絡(luò)從一制程機(jī)臺(tái)收集制程數(shù)據(jù),其中該制程數(shù)據(jù)是非半導(dǎo)體設(shè)備通訊標(biāo)準(zhǔn)界定的數(shù)據(jù)。該處理器,其是用以決定收集的...
        • 一種適用于基于批量的制程機(jī)臺(tái)的、計(jì)算機(jī)執(zhí)行的基于晶片的規(guī)劃方法。該方法包括:提供規(guī)劃數(shù)據(jù),所述規(guī)劃數(shù)據(jù)包含操作層級(jí)、一機(jī)臺(tái)群組集層級(jí)、一機(jī)臺(tái)群組層級(jí)、一機(jī)臺(tái)層級(jí),其中該操作層級(jí)包含至少一操作,且每一操作對(duì)應(yīng)于該機(jī)臺(tái)群組集層級(jí)中的一機(jī)臺(tái)群...
        • 一種制造過(guò)程控制方法及系統(tǒng),該系統(tǒng)包含耦接于網(wǎng)絡(luò)的一制造過(guò)程控制模塊以及一訂單管理模塊。當(dāng)接收到包含多個(gè)貨批的一整批投料量的訂單時(shí),其中上述整批投料量需由制造實(shí)體的制造過(guò)程處理,上述訂單管理模塊自動(dòng)提供電子清單,上述電子清單包含對(duì)應(yīng)上述...
        • 本發(fā)明提供一種產(chǎn)品配送排程方法、提供系統(tǒng)與應(yīng)用于計(jì)算機(jī)的排程系統(tǒng),在不需要人為操作的情況下自動(dòng)且精確地提供產(chǎn)品配送時(shí)間的方法與系統(tǒng)。該方法與系統(tǒng)接收配送時(shí)間,并根據(jù)多個(gè)統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制標(biāo)準(zhǔn)來(lái)監(jiān)控至少一個(gè)制造程序的性能,以產(chǎn)生特定晶片產(chǎn)品,當(dāng)...
        • 本發(fā)明提供一種量測(cè)方法以及虛擬量測(cè)系統(tǒng),特別涉及一種適用于半導(dǎo)體制造的虛擬量測(cè)系統(tǒng)與方法。接收程序數(shù)據(jù)與量測(cè)數(shù)據(jù)。根據(jù)程序數(shù)據(jù)與量測(cè)數(shù)據(jù)透過(guò)學(xué)習(xí)控制模型而產(chǎn)生預(yù)測(cè)數(shù)據(jù)。適用于制造廠的虛擬量測(cè)系統(tǒng)包括用以接收程序數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤偵測(cè)與分類系統(tǒng),...