本申請(qǐng)涉及用于使用相關(guān)樣本生成及高效統(tǒng)計(jì)模擬來(lái)計(jì)算時(shí)序良率及良率瓶頸的方法。本發(fā)明公開用于確定參數(shù)時(shí)序良率及瓶頸的方法及設(shè)備的各種實(shí)施例，所述方法及設(shè)備通過(guò)設(shè)計(jì)中的集成電路芯片的共同時(shí)序弧考慮電路路徑之間的相關(guān)性。時(shí)序弧延遲的蒙特卡羅樣...

本申請(qǐng)案涉及三維動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器晶體管的局部氧化。一種方法可包含與提供層堆疊相關(guān)聯(lián)的操作，所述層由層之間的電介質(zhì)分離，每一層包括由所述多個(gè)單位單元之間的所述電介質(zhì)分離的多個(gè)單位單元，每一單位單元包含硅溝道、在至少兩個(gè)維度上包圍所述硅溝...

本公開涉及一種用于估計(jì)軌道電壓偏差對(duì)信號(hào)時(shí)序的影響的環(huán)視方法。針對(duì)M電路單元窗計(jì)算延遲差(Ddelay)，其中M≥2。估計(jì)跨越所述M電路單元窗的子路徑的失真的信號(hào)傳播。針對(duì)所述失真的信號(hào)傳播，電路單元的軌道電壓包含軌道電壓(IR)降的影...

本公開描述了用于生成時(shí)序庫(kù)的系統(tǒng)和方法。裝置包括存儲(chǔ)器和處理器。處理器確定指示超導(dǎo)電子電路設(shè)計(jì)是通過(guò)邏輯驗(yàn)證還是邏輯驗(yàn)證失敗的條件，并且確定針對(duì)超導(dǎo)電子電路設(shè)計(jì)的時(shí)序參數(shù)的失敗邊緣值。處理器使用時(shí)序參數(shù)的失敗邊緣值和第一工藝變化來(lái)仿真超...

本申請(qǐng)案涉及從仿真硬件的邏輯電平度量計(jì)數(shù)提取。一種處理裝置可將至少一個(gè)邏輯電平度量計(jì)數(shù)模塊添加到電路設(shè)計(jì)，將所述電路設(shè)計(jì)加載到仿真系統(tǒng)中，并將仿真工作負(fù)載應(yīng)用于所述電路設(shè)計(jì)所加載到的所述仿真系統(tǒng)。然后，所述處理裝置可從所述至少一個(gè)邏輯電...

本公開提供一種用于驅(qū)動(dòng)雙軌存儲(chǔ)器電路的系統(tǒng)及方法，所述雙軌存儲(chǔ)器電路通過(guò)在四級(jí)延遲中感測(cè)存儲(chǔ)器位單元、使感測(cè)信號(hào)反相及進(jìn)行電平移位來(lái)操作。所述系統(tǒng)包含反相電路系統(tǒng)，其經(jīng)配置以(ⅰ)從所述雙軌存儲(chǔ)器的第一電源軌(VDDA)接收電力，(ⅱ)...

一種方法包含：接收包含電路級(jí)的電路設(shè)計(jì)(100)；基于原始事件(141)導(dǎo)出輸入端口(110)的扇出錐(302)中的網(wǎng)的初始邏輯條件；針對(duì)所述原始事件，初始化邏輯轉(zhuǎn)變事件的優(yōu)先級(jí)隊(duì)列；從所述優(yōu)先級(jí)隊(duì)列確定觸發(fā)事件，所述觸發(fā)事件具有等于或...

一種用于在半導(dǎo)體裝置的設(shè)計(jì)中對(duì)心軸公差進(jìn)行建模的計(jì)算機(jī)實(shí)施方法。所述方法包含接收用于所述半導(dǎo)體裝置的多圖案化(MPT)工藝設(shè)計(jì)套件(PDK)。所述PDK包含形成所述半導(dǎo)體裝置的至少部分的多個(gè)晶體管及與所述多個(gè)晶體管中的每一者相關(guān)聯(lián)的多個(gè)...

本公開涉及用于極紫外光刻的掩模拼接。基于半導(dǎo)體電路布局的掩模圖案的在所述掩模圖案中的邊界的閾值距離內(nèi)的特征而確定所述掩模圖案內(nèi)的第一位置。所述掩模圖案基于在所述邊界處交匯的第一次掩模曝光及第二次掩模曝光。所述第一位置界定要放置第一輔助特...

本公開涉及交互式視覺日志文件比較。一種方法包含：接收從由電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化過(guò)程的第一次運(yùn)行生成的第一日志文件提取的第一結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)及從由所述電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化過(guò)程的第二次運(yùn)行生成的第二日志文件提取的第二結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)；由處理裝置基于所述第一結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)...

本申請(qǐng)案涉及基于水平集函數(shù)的彎曲掩模層設(shè)計(jì)。在一些方面中，對(duì)光刻掩模進(jìn)行設(shè)計(jì)，所述光刻掩模具有多個(gè)特征，包含彎曲主要特征。首先存取掩模層，所述掩模層表示所述光刻掩模的矢量表示。接著計(jì)算模擬場(chǎng)與目標(biāo)場(chǎng)之間的校正場(chǎng)。所述模擬場(chǎng)是使用所述光刻...

一種集成電路(IC)可以包括存儲(chǔ)器設(shè)備和與存儲(chǔ)器設(shè)備耦接的電路。該電路可以預(yù)處理存儲(chǔ)器設(shè)備以維持振蕩，在包括存儲(chǔ)器設(shè)備的第一環(huán)路中發(fā)起第一振蕩，并且在不包括存儲(chǔ)器設(shè)備的第二環(huán)路中發(fā)起第二振蕩。

本公開涉及一種用于故障功能檢驗(yàn)的時(shí)間控制的系統(tǒng)及方法。在一些實(shí)施例中，一種方法包含：在電路的標(biāo)稱功能檢驗(yàn)中確定第一組件的輸出在第一時(shí)間點(diǎn)時(shí)具有第一值，所述第一組件的所述輸出通過(guò)導(dǎo)線連接到第二組件的輸入；在所述電路的故障功能檢驗(yàn)中確定所述...

模擬集成電路的操作。所述模擬包含通過(guò)使用污染指示符來(lái)跟蹤污染從源數(shù)據(jù)(例如敏感信息或故障)的傳播。所述源數(shù)據(jù)通過(guò)將對(duì)應(yīng)污染指示符的值設(shè)置為污染值而被標(biāo)記為“受污染”。模擬所述源數(shù)據(jù)沿著所述集成電路中的信號(hào)路徑的傳播。所述信號(hào)路徑含有所述...

一種用于設(shè)計(jì)超透鏡的方法包括接收對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的描述，該描述包括(i)光學(xué)系統(tǒng)中的第一透鏡中要使用的超原子和(ii)與第一透鏡相距的第一距離，接收對(duì)光信號(hào)的描述，包括(i)到光學(xué)系統(tǒng)的入射光信號(hào)和(ii)光學(xué)系統(tǒng)的目標(biāo)光信號(hào)，并確定多個(gè)超原...

一種用于表征存儲(chǔ)器實(shí)例的系統(tǒng)和方法。表征存儲(chǔ)器實(shí)例包括獲得包括多個(gè)葉單元的存儲(chǔ)器實(shí)例。多個(gè)葉單元中的每個(gè)葉單元包括組件。第一信道連接組件被從多個(gè)葉單元中的每個(gè)葉單元內(nèi)的組件中確定，并且第一超級(jí)葉單元是基于第一信道連接組件通過(guò)組合多個(gè)葉單...

本公開涉及一種用于對(duì)激活函數(shù)進(jìn)行近似的方法，所述方法包含：接收所述激活函數(shù)的輸入值；確定所述輸入值在一定范圍內(nèi)，所述范圍包含一組非均勻區(qū)間；確定來(lái)自所述一組非均勻區(qū)間當(dāng)中包含所述輸入值的選定區(qū)間；由硬件加速器從與所述激活函數(shù)的類型相關(guān)聯(lián)...

通過(guò)掃描鏈讀出與集成電路的操作條件相關(guān)的傳感器數(shù)據(jù)。對(duì)含有實(shí)施邏輯功能的邏輯電路的集成電路運(yùn)行掃描測(cè)試。所述邏輯電路互連以形成在運(yùn)行所述掃描測(cè)試時(shí)使用的掃描鏈。通過(guò)這些掃描鏈從所述邏輯電路讀出由所述掃描測(cè)試產(chǎn)生的掃描測(cè)試數(shù)據(jù)。在所述掃描...

本申請(qǐng)案涉及集成電路設(shè)計(jì)的單獨(dú)部分的獨(dú)立仿真。一種方法包含：接收包含多個(gè)電路模塊的集成電路設(shè)計(jì)；根據(jù)所述多個(gè)電路模塊將所述集成電路設(shè)計(jì)劃分為多個(gè)分區(qū)；將所述集成電路設(shè)計(jì)的所述多個(gè)分區(qū)指派給仿真系統(tǒng)的對(duì)應(yīng)部分；通過(guò)處理器將多個(gè)仿真通信電路...

公開了一種以并行、可縮放和確定性的方式計(jì)算弱連通分量(WCC)的配置。該配置接收具有頂點(diǎn)和邊的無(wú)向原始圖。未定義的值被分配給圖的所有頂點(diǎn)。此后，每個(gè)頂點(diǎn)被訪問(wèn)并被分配WCCID(標(biāo)識(shí)WCC的索引)。對(duì)頂點(diǎn)的訪問(wèn)可確定是否存在一個(gè)或多個(gè)線...